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基于STM32的线阵CCD尺寸测量系统  
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【英文篇名】 Dimension Measuring System with Linear CCD Based on STM32
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【作者】 秦付军; 黄惟公; 邓成中;
【英文作者】 QIN Fu-jun; HUAN Wei-gong; DENG Cheng-zhong; School of Mechanical Engineering and Automation; Xihua University;
【作者单位】 西华大学机械工程与自动化学院;
【文献出处】 西华大学学报(自然科学版) , Journal of Xihua University(Natural Science Edition), 编辑部邮箱 2013年 05期  
期刊荣誉：ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 精密尺寸测量; 线阵CCD; 细分算法; STM32; AD9826;
【英文关键词】 precise dimension measuring; linear array CCD; segmentation algorithm; STM32; AD9826;
【摘要】 为提高线阵CCD的测量精度,提出了一种以STM32为核心控制器的尺寸测量系统。采用STM32编程实现对线阵CCD的驱动,利用视频专用AD9826芯片中的相关采样等特殊功能实现对CCD输出信号的噪声处理和模数转换。文章详细阐述了系统中CCD驱动、抑制噪声的相关采样、亚像素定位的细分算法等关键技术的实现原理。该设计既简化了此类系统的硬件设计又便于调试控制参数、实现复杂的细分运算。
【英文摘要】 In order to improve the measure precision of linear CCD,this paper proposes a precision measuring instrument with STM32 as the core controller design scheme.The linear CCD drive is realized by programming with STM32.The special AD9826 chip is used for the noise processing and analog-to-digital conversion of CCD output signal which has relevant sampling and other special function.The paper describes CCD drive,relevant sampling technology,noise,sub-pixel positioning of the segmentation algorithm and key techn...
【基金】 教育部“春晖计划”合作科硕项目(12202528)
【更新日期】 2013-11-07
【分类号】 TN386.5
【正文快照】 线阵CCD因其响应速度快、精度高和可非接触测量而被广泛应用于物件的一维尺寸测量[1],但是其测量精度却受CCD的像元尺寸限制。传统提高精度的方法是提高制造工艺以减小CCD的像元尺寸、利用光学系统进行放大等。这些方法系统复杂、成本高[2]。细分算法可以提高测量精度,突破像元

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