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纳米薄膜的制备技术及其膜厚表征方法进展

Progress of preparation techniques and thickness measurements of nano-scale thin films

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【作者】 徐建陆敏朱丽娜吴立敏

【Author】 Xu Jian Lu Min Zhu Lina Wu Limin (Shanghai Institute of Measurement and Testing Technology,Shanghai,201203)

【机构】 上海市计量测试技术研究院

【摘要】 纳米薄膜材料是一种新型材料,由于其特殊的结构特点,使其作为功能材料和结构材料都具有良好的发展前景。本文综述当前纳米薄膜的制备技术,并针对这些成膜工艺,概括表征纳米薄膜厚度的常用方法。

【Abstract】 Nano-scale thin film is a new type of material,and it has a wide range of potential applications both as functional materials and as structural materials in the future.The preparation techniques and the thickness measurements of nano-scale thin films are reviewed.

【基金】 上海市科委纳米专项(No.1052nm07900);上海市科委标准化专项(No.11dz0502100)
  • 【文献出处】 现代仪器 ,Modern Instruments , 编辑部邮箱 ,2012年03期
  • 【分类号】TB383.2
  • 【被引频次】28
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