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电子器件散粒噪声测试方法研究

Shot noise measurement methods in electronic devices

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【作者】 陈文豪杜磊庄奕琪包军林何亮陈华孙鹏王婷岚

【Author】 Chen Wen-Hao1) Du Lei1) Zhuang Yi-Qi2) Bao Jun-Lin2) He Liang1) Chen Hua1) Sun Peng1) Wang Ting-Lan1) 1)(School of Technology Physics,Xidian University,Xi’an 710071,China) 2)(School of Microelectronic,Xidian University,Xi’an 710071,China)

【机构】 西安电子科技大学技术物理学院西安电子科技大学微电子学院

【摘要】 本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导-绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.

【Abstract】 The limitations to shot noise measurement methods based on superconducting quantum interference device(SQUID) and superconductivity-insulation-superconductor(SIS) Josephson junction are pointed out,and a method to measure the shot noises of conventional electronic devices is proposed.Shot noise characteristics of conventional electronic devices are analyzed,and then a low-temperature measurement system is established.By using a double-shielding construction and low noise preamplifier,the test system can achieve a good electromagnetic interference shielding and low background noise.The theoretical and the experimental results of shot noises in diodes at 10 K are in good agreement with each other.The accuracy and the credibility of measurement system are proved.

【关键词】 散粒噪声电子器件噪声测试
【Key words】 shot noiseelectronic devicesnoise measurement
【基金】 国家重点基础研究发展计划(973计划)(批准号:2010CB631002)资助的课题~~
  • 【文献出处】 物理学报 ,Acta Physica Sinica , 编辑部邮箱 ,2011年05期
  • 【分类号】TN911.4
  • 【被引频次】53
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