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真空变温薄膜电阻测试仪器的设计与应用

New instrument for measuring thin film resistance with varying temperature in vacuum

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【作者】 朱亚彬魏敏建何帆刘依真王保军陈志杰

【Author】 ZHU Ya-bin,WEI Min-jian,HE Fan,LIU Yi-zhen,WANG Bao-jun,CHEN Zhi-jie(School of Science,Beijing Jiaotong University,Beijing 100044,China)

【机构】 北京交通大学理学院物理实验中心

【摘要】 设计了自制真空变温薄膜电阻测试仪器,可以实现粗真空条件下,从室温到300℃的四探针法薄膜电阻测试.该仪器适用于开展薄膜物性与电阻和温度相关的实验,例如,金属与半导体薄膜的温度-电阻特性实验,二氧化钒薄膜热滞效应实验等.

【Abstract】 New self-made instrument for measuring thin film resistance using four-probe method with varying temperature(from room temperature to 300 ℃) under rough vacuum was introduced.It was suitable for the development of physics experiments on properties related to the temperature-dependent resistance,for example,the resistance v.s.temperature characteristic of metal and semiconductor thin film and thermal-lag effect of vanadium dioxide thin film,and so on.

【关键词】 真空变温薄膜电阻
【Key words】 vacuumvarying temperaturethin film resistance
  • 【文献出处】 物理实验 ,Physics Experimentation , 编辑部邮箱 ,2011年01期
  • 【分类号】O484.42
  • 【被引频次】3
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