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一种FPGA抗辐射布线算法设计  
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【英文篇名】 Radiation-tolerant routing algorithm design for FPGAs
【下载频次】 ★★☆
【作者】 陈丽; 缪斯; 杨文龙; 王伶俐;
【英文作者】 CHEN Li; MIAO Si; YANG Wenlong; WANG Lingli State Key Lab of Application Specific Integrated Circuit & System; Fudan University; Shanghai 201203; China;
【作者单位】 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室;
【文献出处】 计算机工程与应用 , Computer Engineering and Applications, 编辑部邮箱 2011年 35期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【中文关键词】 SRAM型现场可编程门阵列; 单粒子翻转; 通用布局布线算法; 布线;
【英文关键词】 SRAM-based Field Programmable Gate Arrays(FPGA); Single Event Upse(tSEU); Versatile Placement and Routing(VPR); routing;
【摘要】 随着集成密度的增大以及工作电压的降低,基于SRAM的FPGA芯片更加容易受到单粒子翻转的影响。提出了一种基于通用布局布线工具VPR的抗辐射布线算法,通过改变相关布线资源节点的成本函数,来减少因单粒子翻转引起的桥接错误,并与VPR比较下板测试结果。实验结果表明,该布线算法可以使芯片的容错性能提升20%左右,并且不需要增加额外的硬件资源或引入电路冗余。
【英文摘要】 With higher density and lower operating voltage,SRAM-based Field Programmable Gate Arrays(FPGAs) are more sensitive to Single Event Upse(tSEU).A VPR-based anti-SEU algorithm is presented,by modifying relative routing resources' cost function to minimize bridging errors caused by SEU.The experimental results show that this method can improve FPGA chip's soft-error tolerance performance by 20% compared with VPR,without introducing extra hardware resources and additional design redundancy.
【基金】 “核高基”重大专项高端通用芯片方向(No.2009ZX01034-002-004-003); 专用集成电路与系统国家重点实验室自主课题(No.09XT004)
【更新日期】 2012-02-02
【分类号】 TN791;TN07
【正文快照】 1引言现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FP-GA)已被广泛应用于数字电路设计领域。FPGA用户利用计算机辅助设计(Computer Aided Design,CAD)软件将硬件描述语言转换成用于配置FPGA所有SRAM单元的下载文件。整个CAD流程通常被分解成逻辑综合、映射、打包以及布局?

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