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XeF2对SiO2/Si的干法刻蚀

SiO2/Si dry etching with XeF2

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【作者】 尉伟吴晓伟吕凡肖云峰付绍军裴元吉韩正甫

【Author】 WEI Wei1,WU Xiao-wei2,L Fan2,XIAO Yun-feng2,FU Shao-jun1,PEI Yuan-ji1,HAN Zheng-fu2(1.National Synchrotron Radiation Laboratory,University of Science and Technology of China,Hefei 230029,China;2.Key Laboratory of Quantum Information,CAS,University of Science and Technology of China,Hefei 230027,China)

【机构】 中国科学技术大学国家同步辐射实验室中国科学技术大学中国科学院量子信息重点实验室

【摘要】 XeF2是一种可以在常温下与硅发生反应的气体,可用作对硅进行干法刻蚀的工作气体,其对硅刻蚀特性呈现各向同性.研制了一个使用脉冲法对二氧化硅/硅体系进行XeF2刻蚀的系统,刻蚀系统简单且操作容易.利用该系统成功地刻蚀出"蘑菇状"的SiO2/Si结构,得到的刻蚀选择比大于1000.

【Abstract】 XeF2 can react with silicon in room temperature and be used as silicon dry etching gas,it is a kind of isotropic dry etching. A XeF2 pulse etching system with simple structure and easy operating has been constructed to perform SiO2/Si etching. With this system,the mushroom-like SiO2/Si structure has been fabricated,and the etching selectivity between silicon and silica mask exceed 1 000.

【基金】 国家大科学工程(NSRL二期工程);国家自然科学基金(60537020,60121503);中国科学技术大学青年基金(KA2310000007)资助
  • 【文献出处】 中国科学技术大学学报 ,Journal of University of Science and Technology of China , 编辑部邮箱 ,2009年06期
  • 【分类号】TN305.7
  • 【被引频次】8
  • 【下载频次】447
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