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基于金刚石对顶砧的高压下原位阻抗谱测量  
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【英文篇名】 In-Situ electrical impedance measurement on diamond anvil cell under high pressure
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【作者】 杨洁; 王月; 高春晓;
【英文作者】 YANG Jie~1; WANG Yue~2; GAO Chun-Xiao~2(1.Fundamental Department; Aviation University of Air Force; Changchun 130022; China; State Key Lab for Superhard Materials; Institute of Atomic and Molecular Physics; Jilin University; Changchun 130012; China);
【作者单位】 空军航空大学基础部; 吉林大学原子分子物理研究所超硬材料国家重点实验室;
【文献出处】 原子与分子物理学报 , Journal of Atomic and Molecular Physics, 编辑部邮箱 2009年 04期  
期刊荣誉：中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 金刚石对顶砧; 阻抗谱; 原位测量;
【英文关键词】 diamond anvil cell; electrical impedance; in-situ measurement;
【摘要】 借助薄膜集成技术,阻抗谱测量方法被应用到金刚石对顶砧压机上.通过对电极构型的改进和组装方法的优化,实现了对ZnS样品高压下原住阻抗谱的测量,实验压力达到30 GPa.实验结果显示,平行板构型的电极能够获得完整的阻抗谱.ZnS在压力作用下发生的结构相变,引起了电输运性质的变化,而这个变化,能够清晰地在阻抗谱测量中反映出来.
【英文摘要】 In situ electrical impedance measurement was introduced onto diamond anvil cell by film fabricating method.With suitable electrical probe model and optimized sample fabricating,the electrical impedance spectra of ZnS powder was obtained in diamond anvil cell up to 30GPa.The experiment result indicates that the parallel electrical probe model is good for accurate impedance detecting in diamond anvil cell under high pressure.The electrical transport behavior change resulted by pressure induced phase transitio...
【基金】 国家自然科学基金(10874053,50532020); 科技部973课题(2005CB724404); 教育部创新团队基金(IRT0625)
【更新日期】 2013-11-28
【分类号】 O521
【正文快照】 1引言 高压下物质性质原位测量是物理学研究的重要方面,能够获得在压力作用下物质物理性质和结构变化的过程和所遵循的客观规律,获得常压下难以得到的新现象和新效应.长期以来,高压下物质性质的原位测量多采用光谱技术,高压物理研究也多集中在结构分析方面,如X光进行结构分析,?

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