节点文献
智能数字芯片检测仪的研制
【摘要】 为解决在科研和商业活动中需对芯片是否损坏进行检测的问题,设计由上位PC机软件和检测端组成的智能数字芯片检测仪。检测端由单片机AT89S52数据处理模块、复杂可编程逻辑器件(CPLD)EPM3256待测芯片控制模块、双通道24位模数转换芯片(A/D)CS5550采样电路、电可擦写可编程只读存储器(EEPROM)AT24C08存储电路、LED显示电路和过流保护电路组成。检测端具备与上位PC机串口通信功能,通过上位机软件用户可以自行更新、编辑待测芯片库,检测端可以脱离上位机,同时对两个48管脚以内双列直插式(DIP)封装的数字芯片进行检测。
【基金】 中国地质大学(北京)大学生创新性实验计划专项基金支持
- 【文献出处】 中国科技信息 ,China Science and Technology Information , 编辑部邮箱 ,2009年11期
- 【分类号】TN407
- 【被引频次】3
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