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电容式与光电式条干仪测定常发性纱疵的对比

Comparison between capacitor-type and photoelectric type yarn evenness meter in measuring normal yarn faults

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【作者】 许颖琦

【Author】 XU Ying-qi 1,2(1.The Key Lab of Textile Science & Technology Ministry of Education,Donghua University,Shanghai 200051,China)(2.College of Fashion,Shanghai University of Engineering Science,Shanghai 201620,China)

【机构】 东华大学教育部纺织面料技术重点实验室上海工程技术大学服装学院

【摘要】 分析了电容式纱条均匀度仪和光电式纱线外观测试分析仪的测试原理,并采用两种方法分别测试同一组试样的常发性纱疵,结果发现,两者的测试数据不同,但具有一定的相关性。

【Abstract】 In this paper is analyzed the testing principle of capacitor-type evenness tester and photoelectric yarn appearance tester.And these two testing methods are used respectively to measure the normal yarn faults of the same samples.The result shows that the values obtained by the two meters are different while they correlate with each other.

【关键词】 纱疵检测相关分析
【Key words】 yarn faultsdetectionrelative analysis
【基金】 2007年度纺织面料技术教育部重点实验室开放基金资助项目(703)
  • 【文献出处】 上海纺织科技 ,Shanghai Textile Science & Technology , 编辑部邮箱 ,2009年09期
  • 【分类号】TS101.922
  • 【被引频次】4
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