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半导体芯片测试数据传输方法的研究

Research of Semiconductor Chip Test Data Transmission Method

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【Author】 YANG Li1,CHANG Guo-feng2,ZHANG Dan1(1.School of Imfomation and Electronic Engineering,Hebei University of Engineering,Handan 056038,China;2.Computer and Engineering of Information College,Xinxiang University,Xinxiang 453003,china)

【机构】河北工程大学信息与电气工程学院；新乡学院计算机与信息工程系；

【摘要】通过对半导体芯片测试数据系统的基本架构描述,研究了半导体芯片测试数据传输的过程及方法,为生产企业提供了技术支持。更多还原

【Abstract】 Through the semiconductor chip test data system’s basic architecture description,study on the semiconductor chip test data transmission process and method,to provide an important technical support for enterprises.更多还原

【关键词】半导体芯片；文件传输；芯片测试；
【Key words】 semiconductor chip； files transmiting； chip test；

【文献出处】新乡学院学报(自然科学版) ,Journal of Xinxiang University(Natural Science Edition) , 编辑部邮箱 ,2009年01期

【分类号】TN407
【被引频次】1
【下载频次】109

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