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利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究
【摘要】 以梨为研究对象,初步探讨了应用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的方法。采集梨在400～1 000nm范围的高光谱图像,应用主成分分析方法(PCA)获得主成分图像,根据第三主成分图像(PC-3)中各波长的权重,选出特征波长,分别是572nm、696nm和945nm。经过适当的图像处理方法对梨表面的碰压伤进行检测。检测结果表明,高光谱技术对检测梨表面碰压伤效果非常明显。
【基金】 国家自然科学基金(30760101)资助项目
- 【文献出处】 粮油加工 ,Cereals and Oils Processing , 编辑部邮箱 ,2009年04期
- 【分类号】TS255.7
- 【被引频次】31
- 【下载频次】363