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二十四所集成电路设计/测试技术发展历程与展望
Development and Prospect of SISC’s IC Design and Test Technology
【摘要】 回顾了中国电子科技集团公司第二十四研究所各类模拟/混合信号集成电路设计/测试技术的发展历程,简述了二十四所照相制版和计算机辅助设计等从无到有的历程;最后,对二十四所集成电路设计、测试技术未来的发展进行了展望。
【Abstract】 The development of SISC’s design and test technology for analog/mixed-signal IC’s is reviewed.The evolution from IC mask making to computer aided design at SISC is described.And finally,the future development of SISC’s IC design and test technology is discussed.
- 【文献出处】 微电子学 ,Microelectronics , 编辑部邮箱 ,2008年01期
- 【分类号】TN40-24
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