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标准分划尺在CCD压痕直径测量系统校准中的应用

Application of Standard Line-scale to Calibration of Indentation Diameter Measurement System

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【作者】 张文军陈晓梅

【Author】 ZHANG Wen-jun,CHEN Xiao-mei (Changcheng Institute of Metrology & Measurement,Beijing 100095,China)

【机构】 中国一航北京长城计量测试技术研究所

【摘要】 在高精度测量中,为达到测量精度要求,需要对CCD像素进行校准。本文介绍一种简单易行的采用标准分划尺校准CCD像素的方法。首先标准分划尺经过线纹工作基准装置校准;通过对标准分划尺成像,得出在一段标准距离下的像素数;最后得出每个像素所对应的实际距离。实验证明,这种方法能够有效地抑制综合误差,改善测量精度。

【Abstract】 During the high accurate measurement,it needs to calibrate the value of the CCD pixel in order to fit the accuracy required.In this paper a simple and convenient method for calibrating the CCD pixel with standard line-scale is introduced.The line-scale is calibrated by laser interferometer.We can get the number of pixel corresponding to a length of standard line-scale.Then we can get the real distance corresponding to every pixel.The results of the experiments show that this method can restrain the compositive error and improve the accuracy of measurement.

  • 【文献出处】 计测技术 ,Metrology & Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,2008年05期
  • 【分类号】TH711
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】59
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