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一种实现可控纳米定位沉积的探针修饰新方法

A new method of coating AFM tip for positioning ink deposition

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【作者】 闫树华李宾

【Author】 YAN Shuhua1,2 LI Bin1 1 (Shanghai Institute of Applied Physics, the Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China) 2 (Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049,China)

【机构】 中国科学院上海应用物理研究所中国科学院上海应用物理研究所 上海201800 中国科学院研究生院北京100049上海201800

【摘要】 报道了一种应用原子力显微镜(AFM)实现可控纳米定位沉积的探针修饰新方法。采用改进的AFM探针修饰方法—AFM系统控制的自动进针法—替代通常的将探针浸入"墨水"的直接蘸针法,可控制"墨水"吸附在探针的针尖末端,有效避免纳米点制造过程中非定位沉积的干扰。利用该方法修饰的探针可在DNA分子上可控制备氯化铜溶液纳米点阵,这为生物大分子的局部修饰、加工和改造提供有效途径。

【Abstract】 In this paper, we present a coating AFM tip method to facilitate the dip-pen nanolithography (DPN) processes. The small amount of ink can be limited to the apex of atomic force microscope (AFM) tip by adjusting AFM operation parameters. With this automatic AFM-engage system overloading ink, usually disturbing imaging and manipulating, can be avoided. Thereby, a uniform nanoarray of CuCl2 is constructed on a DNA molecule. The unique technique may provide a novel approach to precisely modify biological molecule at the nano-meter scale.

【基金】 国家自然科学基金(10675160、10674147、10604061);上海市自然科学基金(06ZR14105)资助
  • 【分类号】Q503
  • 【被引频次】4
  • 【下载频次】198
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