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用CMOS线阵图像传感器测量透明材料的折射率

Measuring refraction index of transparent materials using CMOS image sensor

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【Author】 CHE Shu-liang1,ZHANG Hong-xin2,CHEN Si-qin1 (1.Department of Physics and Electronic Engineering,Centre University for Nationalities,Beijing 100081,China;2.School of Electronic Engineering,Beijing University of Posts & Telecommunications,Beijing 100876,China)

【机构】中央民族大学物理与电子工程学院；北京邮电大学电子工程学院；中央民族大学物理与电子工程学院北京100081；北京100876；北京100081；

【摘要】将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合,提出了自动测量透明材料折射率的方法.介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法.采用曲线拟合计算条纹移动距离,提高了对干涉条纹移动量测量的准确性,折射率精度可提高到10-5数量级.更多还原

【Abstract】 Based on the interference of diffraction grating and the technology of CMOS linear image sensor,the refraction index of transparent materials is measured automatically.First,the fundamentals of CMOS linear image sensor is analyzed and the introduction about data sampling is given.Then,the method to compute the displacement of the interference stripe is presented using curve fitting of the data.With this method,the measurement accuracy of the displacement of the interference stripe is improved.The precision of the refraction index can reach 10-5.更多还原

【关键词】折射率；透明材料； CMOS线阵图像传感器；干涉条纹；
【Key words】 refraction index； transparent materials； CMOS linear image sensor； interference stripe；

【基金】国家自然科学基金项目资助(No.60331010)

【文献出处】物理实验 ,Physics Experimentation , 编辑部邮箱 ,2007年10期

【分类号】O435.1
【被引频次】3
【下载频次】189

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