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样品的倾斜度对椭偏法测量薄膜参数的影响

Influence of Sample Inclination on Measuring Film Parameter by Ellipsometry Method

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【作者】 杨昌虎曾晓英廖家欣

【Author】 YANG Chang-hu,ZENG Xiao-ying,LIAO Jia-xin(College of Physics and Electrical Science,Changsha University of Science and Technology,Changsha 410076,China)

【机构】 长沙理工大学物理与电子科学学院长沙理工大学物理与电子科学学院 湖南长沙410076湖南长沙410076

【摘要】 为了研究薄膜样品的倾斜程度对椭偏法测量薄膜参数的影响,运用椭偏法测量原理及Matlab软件,分析与计算了薄膜样品的倾斜度对测量薄膜参数的影响程度,结果表明这种影响是很小的,并通过实验验证了理论分析与实验结果是相符的。为迅速调整好椭偏仪提供了理论和实验依据。

【Abstract】 In order to study the Influence of sample inclination on measuring film parameter byellipsometry method,the impact degree of sample inclination on film parameter was analysed andcalculated by utilizing principle of ellipsometric measurement and MATLAB software in this paper.It is show that this influence is negligible and experimental results agree with the theoreticalones.This can afford the theoretical and experimental proof for adjusting ellipsometer rapidly.

【关键词】 椭偏仪薄膜倾斜度相对误差
【Key words】 ellipsometerfilminclinationrelative error
【基金】 湖南省教育厅资助科研项目(06C104)
  • 【文献出处】 实验室研究与探索 ,Research and Exploration in Laboratory , 编辑部邮箱 ,2007年07期
  • 【分类号】O484.5
  • 【被引频次】5
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