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STM“接触”式测量中的整流效应

Rectifying Effect in Contact Mode of STM

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【作者】 邱伟民; 严学俭; 李旭; 沈淼; 曾志刚; 张莉; 华中一;

【Author】 Qiu Weimin,Yan Xuejian~*,Li Xu,Shen Miao,Zeng Zhigang,Zhang Li and Hua Zhongyi(Department of Materials Science,Fudan University,Shanghai,200433,China)

【机构】 复旦大学材料科学系; 复旦大学材料科学系 上海200433; 上海200433教授; 上海200433; 上海200433;

【摘要】 在利用扫描隧道显微镜(STM)对Ag-TCNQ薄膜进行“接触”式的I-V特性测量中,发现由于接触势垒引起的整流效应。这为有机分子在电子学的应用方面,提供一种新的思路,从而设计新的有机电子器件。

【Abstract】 On I-V measurement of Ag-TCNQ thin film by Scanning Tunneling Microscope(STM) of contact mode,rectifying effect caused by Schottky barrier is found.It supplies a new design idea for application of organic compounds on electronics,so as to create new types of organic electronic devices.

  • 【文献出处】 真空科学与技术学报 ,Chinese Journal of Vacuum Science and Technology , 编辑部邮箱 ,2005年03期
  • 【分类号】TN304
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】90
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