节点文献

光反射法微摩擦测试仪

Testing Apparatus for Micro-Friction Using Reflection Method

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 于正林吴一辉刘治华贾宏光黎海文

【Author】 Yu Zhenglin Wu Yihui Liu Zhihua Jia Hongguang Li Haiwen State Key Laboratory of Applied Optics, Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun, 130033

【机构】 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春130033长春130033

【摘要】 为研究MEMS的微摩擦需设计一种能够测量微米尺度样品摩擦特性的专用仪器,尤其是能进行微机构摩擦力和正压力测试的大范围、高灵敏度的微摩擦检测装置。给出了一种基于光反射法的微摩擦测试仪的设计方法,介绍了该仪器的设计原理、测力传感器的结构设计、仪器的标定方法。硅测力传感器采用MEMS工艺制作,具有变形量大、线性度好、灵敏度高等优点。实验结果表明,该测试仪能满足微机电系统微摩擦测试的需要。

【Abstract】 This paper proposed a new reflection method in micro-friction testing, including its design principles, structure of micro-force sensor, demarcating method of the apparatus. The micro-force sensor was made up of silicon slice by MEMS technique, it has some unique advantages that the ordinary sensor hasn’t, e.g. large deformation, good linearity, high sensitivity etc. This apparatus can meet the needs of micro-friction testing.

【基金】 国家863高技术研究发展计划资助项目(2004AA404250);中国科学院二期创新工程
  • 【文献出处】 中国机械工程 ,China Mechanical Engineering(中国机械工程) , 编辑部邮箱 ,2005年14期
  • 【分类号】TH823
  • 【被引频次】16
  • 【下载频次】250
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络