节点文献

X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷

Determination of silicon and phosphorus in pig iron by XRF

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 甄洪香徐增芹葛镧

【Author】 ZHEN Hong-xiang,XU Zeng-qin,GE Lan(Technical supervision Department,Jinan Iron and Steel Group company,Jinan 250101,China)

【机构】 济南钢铁集团总公司技术监督处济南钢铁集团总公司技术监督处 山东济南250101山东济南250101山东济南250101

【摘要】 探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法。该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min。

【Abstract】 The rapid determination of silicon and phosphorus in pig iron with polarized EDXRF spectrometer was discussed.The results obtained by this method were in agreement with those by chemical method or certified values.The relative standard deviation was below 1.3%,and the analytical time for Si and P could be shortened from 15 min to 2 min.

  • 【文献出处】 冶金分析 ,Metallurgical Analysis , 编辑部邮箱 ,2005年04期
  • 【分类号】TG115.3
  • 【被引频次】17
  • 【下载频次】150
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络