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原子力显微镜在DNA研究中的应用

Application of Atomic force Microscope to the Study of DNA

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【Author】 Guo Yunchang1, Cai Yingqian 2, Nakajima Hideo3 (1Marketing Division, SHIMADZU International Trading (Shanghai) CO., Limited, Shanghai 200020, China) (2Neuromedical Institute, Zhujiang Hospital of Southern Medical University, Guangzhou 510282, China) (3Analytical & Measuring Instruments Division, SHIMADZU Corporation, Tokyo 101-8448, Japan)

【机构】岛津国际贸易(上海)有限公司市场部；南方医科大学珠江医院神经医学研究所；岛津制作所分析测量部上海200020；广州510282；日本东京101-8448；

【摘要】原子力显微镜作为一种新型的表面表征手段已经得到了各个方面的应用,本文探索了AFM在DNA表面结构中的研究方法,讨论了AFM在研究DNA中优势。更多还原

【Abstract】 As a new surface characterization method, AFM has been applied into various aspects of science. The authors explored the way to research the surface structure by AFM and discussed the advantages of AFM in the DNA study.更多还原

【关键词】原子力显微镜； DNA；动态模式；扫描电镜；
【Key words】 Atomic force microscopy； DNA； dynamic mode； scanning electron microscope；

【基金】国家自然科学基金(30270491,10335070,30200051,29579293和10304011)资助

【文献出处】现代科学仪器 ,Modern Scientific Instruments , 编辑部邮箱 ,2005年03期

【分类号】TH742
【被引频次】3
【下载频次】254

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