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高精度电容式动态薄膜测厚仪的研制

Development of the high-precision dynamic capacitance measuring instrument of thin-film thickness

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【作者】 李亚标王宝光郑义忠刘力双卢慧卿

【Author】 Li Yabiao Wang Baoguang Zheng Yizhong Liu Lishuang Lu Huiqing(State Key Laboratory of Precision Measurement Technology and Instruments,Tianjin University 300072,China)

【机构】 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津300072天津300072天津300072

【摘要】 本文介绍一种高精度高分辨率的仪器———电容式动态薄膜测厚仪。详述仪器的工作原理、应用软件和数据处理方法

【Abstract】 A high-resolution and high-precision instrument,dyamic capacitance measuring instrument of thin film thickness,is introduced in this paper The operating principle of the instrument,the application software for the instrument and the method of data processing is introduced at the same time

  • 【文献出处】 现代仪器 ,Modern Instruments , 编辑部邮箱 ,2005年03期
  • 【分类号】TH821.1
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】227
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