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X射线掩模电子束制备图形过程中的数值研究

Numerical Simulation of the X-ray Mask during Electron-beam Patterning

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【作者】 王永坤余建祖

【Author】 WANG Yong-kun, YU Jian-zu (Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100083, China)

【机构】 北京航空航天大学北京航空航天大学 北京100083北京100083

【摘要】 得到移动光源照射下平板温度分布的理论解,验证了有限元方法的正确性。建立了X射线掩模电子束制备图形过程中传热的三维有限元模型,给出了掩模瞬态温度变化规律。结果表明,辐射是X射线掩模在图形制备中必须考虑的重要因素之一,当不考虑辐射时,掩模瞬时最高温度随时间振荡升高,最高温度为35.20℃;当考虑辐射时,掩模瞬时最高温度随时间周期变化,最高温度为26.95℃。

【Abstract】 Theory solution of plane temperature distribution was obtained under moving beam ex- posure and the finite element method was verified·Developing three-dimensional finite element model of X-ray mask during electron-beam patterning (EBP), transient temperature variation was given·The results show that radiation is one of the most important factors for X-ray mask during EBP·Taking no account of the radiation, the transient maximum temperature fluctuates and in-

【基金】 国家自然科学基金资助项目(59976004)
  • 【文献出处】 微细加工技术 ,Microfabrication Technology , 编辑部邮箱 ,2005年02期
  • 【分类号】TN305
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】36
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