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芯片级封装技术研究

A Study on Chip Scale Package Technology

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【作者】 罗驰邢宗锋叶冬刘欣刘建华曾大富

【Author】 LUO Chi, XING Zong-feng, YE Dong, LIU Xin, LIU Jian-hua, ZENG Da-fu (Sichuan Institute of Solid-State Circuits, China Electronics Technology Group Corp., Chongqing 400060, P. R. China)

【机构】 中国电子科技集团公司第二十四研究所中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060重庆400060重庆400060

【摘要】 对刚性基板倒装式和晶圆再分布式两种结构的芯片级封装(CSP)进行了研究,描述了CSP的工艺流程;详细讨论了CSP的几项主要关键技术结构设计技术,凸点制作技术,包封技术和测试技术;阐述了采用电镀和丝网漏印制备焊料凸点的方法。

【Abstract】 Chip scale package (CSP) for flip-chip on hard substrates and wafer re-distribution is studied, and its process flow is described. Key technologies for CSP, such as structure designing, solder bumping, enveloping, and testing, are discussed in particular. Techniques of electroplating and stencil printing to prepare solder bumping are also described.

【关键词】 微组装芯片级封装凸点
【Key words】 MicroassemblyChip scale packageSolder bumping
【基金】 预研项目“可直接测试、筛选、老化芯片的CSP技术及其应用研究”资助
  • 【分类号】TN405
  • 【被引频次】8
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