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时效Sn-9Zn-3Bi/Cu钎焊接头的电子探针分析

ELECTRON PROBE ANALYSIS OF Sn-9Zn-3Bi SOLDER/Cu JOINT AFTER AGING

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【作者】 王秀敏于大全刘瑞岩王来

【Author】 WANG Xiu-min, YU Da-quan, LIU Rui-yan, WANG Lai(Dalian University of Technology, Department of Materials Engineering, Liaoning Dalian 116023, China)

【机构】 大连理工大学材料工程系大连理工大学材料工程系 大连116023大连116023大连116023

【摘要】 用EPMA 1600型电子探针波谱分析了 Sn 9Zn 3Bi/Cu钎焊接头在 170℃时效 1 000h后的界面组织及其成分。结果表明,界面处存在三层化合物层。从基体铜侧起,依次为 Cu Sn化合物层、Cu Zn化合物层和Sn Cu化合物层。电子探针能够有效分析微观组织、成分的变化和扩散现象。

【Abstract】 The microstructure and composition of the Sn-9Zn-3Bi/Cu joint after 1000h aging were investigation using EPMA. The results indicated that there exits three intemetallic compound (IMC) layers at the solder joint. From Cu side they are Cu-Sn IMC layer, Cu-Zn IMC layer and Sn-Cu IMC layer respectively. The EPMA can analysis the microstructures、compositions as well as the diffusion phenomenon successfully.

【关键词】 无铅钎料Sn-Zn-Bi时效界面反应电子探针
【Key words】 Lead-free solderSn-Zn-BiAgingInterface reactionEPMA
  • 【文献出处】 理化检验(物理分册) ,Physical Testing and Chemical Analysis Part A Physical Testing , 编辑部邮箱 ,2005年03期
  • 【分类号】TG407
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】187
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