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微波元件复反射系数测量数据评估及实现

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【摘要】 分析了多状态反射计系统的性质,并根据状态圆的位置关系,构建了数据评估参数,以有效评判测量数据和系统性能。同时借助由双魔T和两晶体检波器构建的测试系统,使用计算机进行数据处理,能够快捷地进行实际测试和数据评判。

  • 【文献出处】 计量技术 ,Measurement Technique , 编辑部邮箱 ,2005年10期
  • 【分类号】TN61;
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】59
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