【作者】 林震； 程永生； 姜同敏； 胡斌；
【机构】 中国工程物理研究院电子工程研究所； 北京航空航天大学可靠性研究所； 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川绵阳621900； 四川绵阳621900； 北京100083；
【摘要】 从应用角度出发,对成败型产品可靠性鉴定试验中的几个问题进行了探讨。更多还原
