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同步辐射软X射线引起小麦根尖细胞凋亡的研究
Studies of synchrotron radiation (soft X-ray) on apoptosis of wheat root tip cells
【摘要】 采用不同剂量的软X射线辐照小麦种子,利用DAPI荧光染色和TUNEL原位标记对种子萌发后的根尖细胞进行细胞凋亡的检测。结果表明,在剂量为0—288J/cm2范围内的软X射线辐照能引起小麦根尖细胞的凋亡现象(如细胞形态学变化及细胞核内DNA的断裂等)发生,细胞凋亡率与同步辐射软X射线辐照剂量呈正相关性。
【Abstract】 After wheat seeds were irradiated with different doses (0—288 J/cm2) of synchrotron radiation (SR) soft X-rays, we investigated the apoptosis phenomenon of wheat root tip cells by DAPI and TUNEL. The results show that the correlation between the apoptosis rate and the irradiation dose is positive.
【关键词】 同步辐射；
软X射线；
小麦根尖细胞；
细胞凋亡；
DAPI染色；
TUNEL原位标记；
【Key words】 Synchrotron radiation； Soft X-ray； Wheat root tip cells； Apoptosis； DAPI； TUNEL；
【Key words】 Synchrotron radiation； Soft X-ray； Wheat root tip cells； Apoptosis； DAPI； TUNEL；
- 【文献出处】 核技术 ,Nuclear Techniques , 编辑部邮箱 ,2005年10期
- 【分类号】S512.1;
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