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可编程逻辑器件在存储器辐射效应测试系统中的应用

Application of complex programmable logic devices in memory radiation effects test system

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【作者】 李永宏贺朝会杨海亮何宝平

【Author】 LI Yong-hong , HE Chao-hui , YANG Hai-liang, HE Bao-ping(Northwest Institute of Nuclear Technology,P.O.Box 69-13,Xi’an of Shaanxi Prov. 710024,China)

【机构】 西北核技术研究所西北核技术研究所 西安市69信箱13分箱710024西安市69信箱13分箱710024西安市69信箱13分箱710024

【摘要】 着重论述复杂可编程逻辑器件(CPLD)在电子线路设计中的应用,介绍了开发软件M AX+p luses和可编程逻辑器件的使用。应用可编程逻辑器件EPM 7128SLC 84-15设计存储器辐射效应测试系统中的数据采集卡(ISA卡),实现了原测试系统的功能,减少了分立器件数量,提高了系统可靠性。

【Abstract】 The application of the complex programmable logic device (CPLD) in electronics is emphatically discussed. The method of using software MAX+plusⅡ and CPLD are introduced. A new test system for memory radiation effects is established by using CPLD devices-EPM7128LC84-15 . The old test system’s function are realized and , moreover, a number of small scale integrated circuits are reduced and the test system’s reliability is improved.

【关键词】 CPLDMAX+plusⅡISA卡辐射效应
【Key words】 CPLDMAX-plusⅡISA card, radiation effects
  • 【文献出处】 核电子学与探测技术 ,Nuclear Electronics & Detection Technology , 编辑部邮箱 ,2005年05期
  • 【分类号】TN791;TP333
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