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合成回路试验电流引入可靠性的研究

Study of the Reliability of Current Injection for Synthetic Circuit Test

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【作者】 秦实宏何俊佳程礼椿邹积岩

【Author】 QIN Shi-hong~1, HE jun-jia~2, CHENG Li-chun~2, ZOU Ji-yan~3(1 Dep.of Electric and Information Engin. of Wuhan Polytechnic Univ., Wuhan,430023,China;2 School Electric of Huazhong Univ. of Science and Technology, Wuhan, 430074, China;3 Dep. of Electric-magenetics of Dalian Univ. of Science and Technology, Dalian, 116000, China)

【机构】 武汉工业学院电气工程与信息工程系华中科技大学电气学院大连理工大学电磁系 湖北武汉430074湖北武汉430074辽宁大连116000

【摘要】 阐述了影响合成试验成功的关键技术问题,采用光隔、单片机等技术实现了合成回路各开关时序以及电流引入时间的准确控制,提高了合成试验可靠性和成功率,并开发了单片机数据采集和合成回路试验控制系统。

【Abstract】 Based on the synthetic circuit test for vacuum switch, the factors that influence the success of the synthetic test are analyzed. The microcomputer system of time controlling for trigging a gap switch and experimental date processing is developed. The current injection time can be controlled more precisely. Triggingtime for a gap switch is more reliable and the synthetic test can be made more efficiently. The computer control system is very helpful for studying and developing applications of vacuum switch.

【基金】 湖北省自然科学基金(2003ABA052);湖北省教育厅基金(2003A005)
  • 【文献出处】 湖北工业大学学报 ,Journal of Hubei Polytechnic University , 编辑部邮箱 ,2005年04期
  • 【分类号】TM83
  • 【被引频次】9
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