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纳米TiO2薄膜的带宽研究(英文)

Investigation on Bandgap Width of Nanometer TiO2 Thin Films

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【作者】 顾广瑞金逢锡陶影李全军李哲奎金哲赵永年郑伟涛金曾孙

【Author】 GU Guang-Rui~1, JIN Feng-xi~1, TAO Ying~2, LI Quan-jun~1, JIN Zhe~1, LI Zhe-kui~1, GAI Tong-xiang~1, ZHAO Yong-nian~3, ZHENG Wei-tao~3, JIN Zeng-sun~3 (1. Department of Physics, College of Science and Engineering, Yanbian University, Yanji 133002, China 2. Applied Engineer Colloge, Jilin Normal University, Siping 1360000,China 3. National Laboratory of Superhard Materials, Jilin University, Changchun, 130012, China)

【机构】 延边大学理工学院物理系吉林师范大学应用工程学院吉林大学超硬材料国家重点实验室吉林大学超硬材料国家重点实验室 吉林延吉133002吉林延吉133002吉林四平1360003吉林长春130012吉林长春130012

【摘要】 利用磁控溅射方法制备了纳米TiO2 薄膜,通过Raman光谱和UV Vis光谱讨论了TiO2 薄膜的带宽随着厚度变化的规律。随着薄膜厚度的增加,TiO2 薄膜的带宽变窄,这是由于纳米薄膜的纳米效应所致

【Abstract】 The TiO2 films were prepared on Si (100) substrates by RF magnetic sputtering PVD. The bandgap width of nanometer TiO2 thin films was investigated by using Raman spectra and Ultraviolet-visible (UV-Vis) Spectra. The bandgap width of TiO2 thin films narrows with the increase of thickness due to nano-effects of nanometer thin films.

【基金】 国家863项目No:2 0 0 2AA3 0 5 5 0 7)~~
  • 【文献出处】 光散射学报 ,Chinese Journal of Light Scattering , 编辑部邮箱 ,2005年01期
  • 【分类号】O484
  • 【下载频次】107
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