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倒装大功率白光LED热场分析与测试

Study on Thermal Performances of Flip-chip High-power White LEDs

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【作者】 吴慧颖钱可元胡飞罗毅

【Author】 WU Hui-ying~(1), QIAN Ke-yuan~1, HU Fei~1, LUO Yi~(1,2) (1.Semiconductor Lighting Lab.Graduate School at Shenzhen,Tsinghua University,Shenzhen 518055,China; 2.State Key Lab on Integrated Optoelectronics,Tsinghua University Beijing 100084,China)

【机构】 清华大学深圳研究生院半导体照明实验室清华大学深圳研究生院半导体照明实验室 广东深圳518055广东深圳518055广东深圳518055清华大学电子工程系集成光电子学国家重点实验室北京100084

【摘要】 散热是影响大功率LED正常工作及器件寿命的关键因素,本文利用有限元法(FEM)对W级倒装大功率白光LED的空间温度场分布进行了模拟计算,结果与用自制的测试装置测量的温度分布相吻合。在此基础上,保持电流密度不变,研究芯片尺寸与结区温度的关系,计算出在当前的发光效率和封装结构条件下,由于散热条件的限制,芯片能承受的最大功率和能达到的最大尺寸。

【Abstract】 Heat dissipation is a key issue in the application of high-power LEDs,as it has significant influence on the output power and lifetime of the device.In this work,finite element method(FEM) is adopted to determine the temperature distribution in 1 W high-power white LEDs.The simulation results show good agreement with the experimental data.The thermal limit of the available package is also studied.The influence of chip-size on the junction temperature has been studied.The maximum input power and chip-size under certain design requirement are also given.This method offers great ease in estimating the temperature distribution and thermal limits of the package.

【基金】 国家自然科学基金资助项目(60290084;60244001;60223001);国家“863”计划资助项目(2001AA312190;2002AA31119Z);国家“973”计划资助项目(G2000 03 6601)
  • 【文献出处】 光电子·激光 ,Journal of Optoelectronics.laser , 编辑部邮箱 ,2005年05期
  • 【分类号】TN312.8
  • 【被引频次】83
  • 【下载频次】787
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