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La0.8MnO3薄膜的微观结构

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【摘要】 掺杂钙钛矿结构锰氧化物La1-xAxMnO3(A=Ca,Sr,Ba或者空位)具有庞磁电阻效应,在磁电阻性随机存储器、读出磁头及磁传感器方面具有潜在的应用前景。由于其性能对结构极其敏感,因此微观结构的研究对理解其电磁输运性能有着重要的意义。本文利用JEOL2010F场发射透射电子显微镜对用脉冲激光沉积的方法沉积在(001)SrTiO3(STO)基底上的La0·8MnO3(LMO)薄膜的微观结构进行了研究。详细的薄膜生长条件可参考文献[1]。图1a为LMO薄膜的横截面形貌像。可以看出,LMO薄膜与STO基底之间的界面非常平整,薄膜厚度均匀,约300nm左右。薄膜从界面处先生长一层衬度均匀层,厚度大

  • 【文献出处】 电子显微学报 ,Journal of Chinese Electron Microscopy Society , 编辑部邮箱 ,2005年04期
  • 【分类号】TM27
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