节点文献

深亚微米IC物理设计流程中的串扰控制

Crosstalk Noise Control in Deep Submicron Physical Design Flow

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 王胤翔周凤亭陆生礼

【Author】 WANG Yin-xiang, ZHOU Feng-ting, LU Sheng-li (National Engineering Resarch center for Application Specific Integrate Circuit System south east university,Nanjing 210096,China)

【机构】 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心 南京210096南京210096南京210096

【摘要】 信号完整性的设计收敛已经成为当前深亚微米集成电路物理设计流程中的关键问题。对信号完整性收敛产生不利影响的有三个因素:串扰、直流电压降和电迁移。其中影响最大的是串扰,串扰噪声会产生大量的时序违规、逻辑错误。主要关注基于串扰控制的物理设计方法,包括新的流程、各个设计阶段对串扰的分析及修正的方法,以达到快速的时序收敛。并且根据真实的设计实例,提出了几点有效的控制串扰的方法和对于信号完整性管理比较有价值的观点。

【Abstract】 Signal integrity closure is one of the key challenges in deep submicron physical design. The crosstalk IR-drop and electro migration are three main points which will infleuence the SI closure. Among these the crosstalk is the most signification, which generate lots of timing violations and fuction failure. A physical design methodology is proposed which includes signal integrity management through crosstalk noise analysis and repair at multiple phases in design flow .With these methods, a quick noise convergence can be achieved . One case study is presented to illustrate the effectiveness of the methodology and provide valuable suggestion useful for successful signal integrity management.

【基金】 国家自然科学基金低功耗内建自测试的可测性设计方法研究(60176018)。
  • 【文献出处】 电子器件 ,Journal of Electron Devices , 编辑部邮箱 ,2005年01期
  • 【分类号】TN402
  • 【被引频次】5
  • 【下载频次】159
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络