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面向可复用IP核测试的JTAG设计
 
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【下载频次】
★★★☆
【作者】
黎东涛
;
【作者单位】
嘉应学院电子信息工程系 广东 梅州
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【文献出处】
大众科技
,
,
编辑部邮箱
2005年 01期
期刊荣誉:ASPT来源刊 CJFD收录刊
【中文关键词】
JTAG
;
TAP
;
边界扫描
;
扫描链
;
IP
;
【摘要】
文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方案。该设计在JTAG工业标准 的基础上,支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测 试等功能.
【更新日期】
2005-08-19
【分类号】
TN402
【正文快照】
一、引官 IP核是指在微电子领域中用来生成AsIC和PLD的逻辑功能块,又称IP CORE。在电子设计日趋复杂的今天,使用IP核已成为设计师不可或缺的重要手段。有资料表明,在芯片设计中,IP应用在整个芯片规模中的比重已超过50%,Dataquest的专家预计到2005年该比重将上升至80%。如何将这
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