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面向可复用IP核测试的JTAG设计  
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【作者】 黎东涛;
【作者单位】 嘉应学院电子信息工程系 广东 梅州;
【文献出处】 大众科技 , , 编辑部邮箱 2005年 01期  
期刊荣誉:ASPT来源刊  CJFD收录刊
【中文关键词】 JTAG; TAP; 边界扫描; 扫描链; IP;
【摘要】 文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方案。该设计在JTAG工业标准 的基础上,支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测 试等功能.
【更新日期】 2005-08-19
【分类号】 TN402
【正文快照】 一、引官 IP核是指在微电子领域中用来生成AsIC和PLD的逻辑功能块,又称IP CORE。在电子设计日趋复杂的今天,使用IP核已成为设计师不可或缺的重要手段。有资料表明,在芯片设计中,IP应用在整个芯片规模中的比重已超过50%,Dataquest的专家预计到2005年该比重将上升至80%。如何将这

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