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背板测试系统

Backplane Test System Design based on FPGA

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【作者】 张友郑世宝

【Author】 Zhang You;Zhen Shibao

【机构】 上海交通大学上海交通大学

【摘要】 采用可编程逻辑器件WPGA作为主控单元实现对背板测试系统的通用设计方法。阐述测试系统设计中的关键技术问题。在实现和应用方面,由于运用通用元器件,易于硬件实现和成本控制,对多点测试系统具有很高的实用价值。

【Abstract】 A general method for backpanel test system is present using FPGA. Key techniques are described in test system design. The system has practical value for multi-point test system in implementation and application.

【关键词】 可编程逻辑器件PCI接口RS485接口
【Key words】 FPGAPCI InterfaceRS85 interface
  • 【文献出处】 电子测量技术 ,Electronic Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,2005年06期
  • 【分类号】TM930
  • 【下载频次】43
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