节点文献
背板测试系统
Backplane Test System Design based on FPGA
【摘要】 采用可编程逻辑器件WPGA作为主控单元实现对背板测试系统的通用设计方法。阐述测试系统设计中的关键技术问题。在实现和应用方面,由于运用通用元器件,易于硬件实现和成本控制,对多点测试系统具有很高的实用价值。
【Abstract】 A general method for backpanel test system is present using FPGA. Key techniques are described in test system design. The system has practical value for multi-point test system in implementation and application.
- 【文献出处】 电子测量技术 ,Electronic Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,2005年06期
- 【分类号】TM930
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