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片式ZnO压敏电阻烧端工艺对限制电压比的影响

Chip Multilayer ZnO Varistors:Effect of Termination Firing Process on Clamping Voltage Ratio

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【作者】 唐斌祝忠勇赖扬伍尚国

【Author】 TANG Bin,ZHU Zhong-yong,LAI Yang,WU Shang-guo(Guangdong Fenghua Advanced Technology(Group) Co.,Ltd,Zhaoqing 526020,China)

【机构】 广东风华高新科技集团有限公司广东风华高新科技集团有限公司 广东肇庆526020广东肇庆526020广东肇庆526020

【摘要】 通过对烧端工艺中不同烧端温度以及保温时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器限制电压比的影响。结果表明:当烧端温度为850℃,保温时间15min时,产品的限制电压比最小。

【Abstract】 The effect of temperature for terminal electrode firing and soak time on the clamping voltage ratio was investigated. The results show that the least clamping voltage ratio can be acquired when firing temperature is 850℃ and soak time is 15 min.

  • 【文献出处】 电子元件与材料 ,Electronic Components $ Materials , 编辑部邮箱 ,2005年09期
  • 【分类号】TM54
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】109
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