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Bi2212体系的层间耦合对临界电流密度的影响
THE EFFECT OF INTERLAYER COUPLING ON CRITICAL CURRENT DENSITY IN Bi2212 SYSTEM
【摘要】 通过对具有不同层间耦合强度的Bi2 2 12单晶样品的磁滞回线的测量 ,得到了样品的临界电流密度Jc 随层间耦合强度和磁场的变化关系 .实验结果显示 ,样品的层间耦合减弱 ,Jc明显减小 .同时发现Jc 与磁场间存在Jc ∝exp(-Hα)关系 ,进一步分析表明 ,Jc 的这种磁场依赖关系是对数钉扎势垒模型的必然结果 .
【Abstract】 The dependences of critical current density J\-c on the interlayer coupling strength and magnetic field in Bi2212 crystals were obtained by measuring the magnetic loop of the crystals with different interlayer coupling strength. It is revealed that J\-c decreases with decreasing of the interlayer coupling in the crystals. The relation of J\-c∝ exp (-H\+α) is also found in the crystals, and further analysis indicated that it is the results of Zeldov pinning potential model.
【关键词】 层间耦合;
临界电流密度;
磁通钉扎;
【Key words】 interlayer coupling; critical current densities; vortex pinning;
【Key words】 interlayer coupling; critical current densities; vortex pinning;
【基金】 国家自然科学基金 (项目编号 :5 0 0 72 0 10 );国家重点基础研究发展规划项目 (项目编号 :NKBRSF G19990 6 4 6 0 3)资助的课题 .~~
- 【文献出处】 低温物理学报 ,Chinese Journal of Low Temperature Physics , 编辑部邮箱 ,2005年01期
- 【分类号】O511
- 【被引频次】3
- 【下载频次】62