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低介电常数多孔二氧化硅薄膜的制备与研究

Preparation and Study of Low Dielectric Constant Mesoporous Silica Films

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【作者】 吴兆丰吴广明姚兰芳沈军刘枫

【Author】 WU Zhao-feng 1,2, WU Guang-ming1, YAO Lan-fang1, SHEN Jun1, LIU Feng1 (1. Pohl Institute of Solid State Physics, Tongji University, Shanghai 200092,China; 2. Yancheng Institute of Technology,Yancheng 224003,China)

【机构】 同济大学波耳物理研究所同济大学波耳物理研究所 上海200092 盐城工学院基础部江苏盐城224003上海200092上海200092

【摘要】 本文报道了一种新型纳米多孔低介电常数薄膜的制备方法。以十六烷基三甲基溴化铵 (CTAB)为模板剂 ,正硅酸乙酯为硅源 ,盐酸为催化剂 ,采用溶胶 凝胶技术 ,通过提拉法制备了二氧化硅透明介孔薄膜。用红外光谱、小角XRD、原子力显微镜对样品进行了表征 ,并采用椭偏仪和阻抗分析仪测量薄膜的折射率和介电常数。通过调节表面活性剂浓度和老化时间等实验条件制备出了K <2 .5、机械强度好的低介电常数薄膜。

【Abstract】 A novel route to prepare low-dielectric constant mesoporous SiO2 films is reported in this paper.Silicate sols are prepared with the precursor TEOS and template CTAB catalyzed by hydrochloric acid. The films are prepared by Dip-coating process. FTIR, XRD and AFM are used to characterize the films.The refractive index and dielectric constant are measureed by Ellipsometer and impedance analysis apparatus. The films with dielectric constant smaller than 2.5 can be acquired by adjusting the concentration of CTAB and aging time.

【基金】 国家自然科学基金委重点基金资助项目(2 0 1 330 4 0 ) ;上海市自然科学基金资助项目(0 2ZE1 4 1 0 1 ) ;上海市科委中法合作资助项目(0 2SL0 0 1 ) ;国家高技术 863计划资助项目 (2 0 0 2AA842 0 52 ) ;上海市重点学科建设资助项目 ;教育部军品配套 ;教育部
  • 【文献出处】 材料科学与工程学报 ,Journal of Materials Science and Engineering , 编辑部邮箱 ,2005年03期
  • 【分类号】TN304
  • 【被引频次】22
  • 【下载频次】774
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