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Ⅲ族氮化物刻蚀技术的研究进展

Research Progress in Etching of Group-Ⅲ Nitride Material

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【作者】 马丽娜; 郭霞; 沈光地;

【Author】 MA Li-na, GUO Xia, SHEN Guang-di(Beijing Optoelectronic Technology Lab.,Beijing University of Technology,Beijing 100022,CHN)

【机构】 北京工业大学北京市光电子技术实验室; 北京工业大学北京市光电子技术实验室 北京100022; 北京100022; 北京100022;

【摘要】 随着Ⅲ族氮化物半导体材料研究的发展,Ⅲ族氮化物的图形刻蚀技术也得到了广泛研究。对Ⅲ族氮化物的各种刻蚀技术进行了详细总结和对比,包括湿法腐蚀、RIE刻蚀I、CP刻蚀等,并对目前Ⅲ族氮化物刻蚀技术的研究热点进行了较为深刻的分析。

【Abstract】 With the development of group-Ⅲ nitride semiconductor material,the etching technique of the pattern on group-Ⅲ nitride materials has been widely investigated.Various group-III nitride etching techniques are summarized and compared,including wet etching,RIE and ICP,etc.Recent research hot spot on etching group-Ⅲ nitride material are also discussed.

【关键词】 Ⅲ族氮化物; 湿法腐蚀; ICP刻蚀;
【Key words】 group-Ⅲ material; wet etching; ICP;
【基金】 国家“973”计划项目(20000683002);北京市科委重点项目(D0404003040221)
  • 【文献出处】 半导体光电 ,Semiconductor Optoelectronics , 编辑部邮箱 ,2005年04期
  • 【分类号】TN305.7
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】275
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