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VLSI可测性设计研究

Summary of VLSI Design-for-Test

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【作者】 杜俊赵元富

【Author】 DU Jun, ZHAO Yuan-fu(Beijing Microelectronics Technology Institute, Beijing 100076 China)

【机构】 航天时代电子公司研究院微电子技术研究部航天时代电子公司研究院微电子技术研究部 北京100076北京100076

【摘要】 从可测性设计与VLSI测试、VLSI设计之间的关系出发,将与可测性设计相关的VLSI测试方法学、设计方法学的内容有机地融合在一起。文中简要地介绍了VLSI可测性设计的理论基础和技术种类,简明地评述了可测性设计的现状和发展趋势,并且探讨了可测性设计的实现方法。

【Abstract】 From the point of view about the relationships among DFT, VLSI test and VLSI design, popular DFT techniques and correlative theories of VLSI test and design are summarized. Basic theories, current technologies, implementation approaches and new trends in the future about VLSI design-for-test are introduced in brief in this paper.

  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,Microelectronics & Computer , 编辑部邮箱 ,2004年10期
  • 【分类号】TN402
  • 【被引频次】25
  • 【下载频次】786
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