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缺陷深度脉冲热像检测新方法

PULSE THERMOGRAPHIC METHOD FOR MEASURING DEFECT DEPTH

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【作者】 王永茂王飒爽马宁吕学东

【Author】 WANG Yong-mao, WANG Sa-shuang, MA Ning, LU Xue-dong (College of Mechanical Engineering and Automation, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100083, China)

【机构】 北京航空航天大学机械工程及自动化学院北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京 100083北京 100083北京 100083

【摘要】 介绍脉冲热像检测中由峰值时间求缺陷深度的方法,对热传导性能好的材料,从红外热像时间序列难以捕捉到峰值时间。为此提出了一个既能避开峰值时间又能被红外热像仪探测和记录的新参数,从而达到测量缺陷深度的目的。

【Abstract】 Pulse thermographic method for determining defect depth through peak time was introduced. It was difficult to catch the peak time of the materials with good heat conduction. So a new parameter was put forward for determining defect depth which could avoid peak time and be recorded by thermographic instrument.

【关键词】 红外线检验缺陷深度峰值时间金属
【Key words】 Infrared testingDefect depthPeak timeMetal
【基金】 国家自然基金资助项目(E05020402)
  • 【文献出处】 无损检测 ,Nondestructive Testing , 编辑部邮箱 ,2004年03期
  • 【分类号】TH878
  • 【被引频次】21
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