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取向成像电子显微术试样的制备

METALLOGRAPHIC SAMPLE PREPARATION FOR OIM-EBSD

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【Author】 LI Hua-qing~1, XIE Shui-sheng~1, YAN Yun-jie~2, LI Xu-dong~3(1. General Research Institute for Non-ferrous Metals,Beijing 100088, China;2. Tsinghua University, School of Materials Science and Engineering, Beijing 100084, China;3. Lanzhou Univ. of Tech, School of Materials Science and Engineering, Lanzhou 730050, China)

【机构】北京有色金属研究总院加工工程研究中心；清华大学材料科学与工程研究院；兰州理工大学材料科学与工程学院北京100088；北京100088；北京100084；兰州730050；

【摘要】鉴于电子背散射(EBSD)试样的制备质量对其成像质量有着很大影响,介绍了几种有效的试样制备方法,并对比了几种抛光方法及其成像效果。更多还原

【Abstract】 Orientation image microscopy (OIM) technology has great advantage on analyzing crystal orientations and texture. During the follow-up processing to EBSD (Electron backscatter diffraction) data, the quality of metallographic sample play an important role on affecting the results′ accuracy and precision level. Thus the preparation of EBSD sample is an important procedure prior to the actual experimentation.更多还原

【关键词】取向成像电子显微术；试样制备；腐蚀抛光；电解抛光；离子减薄；
【Key words】 OIM； Preparation of sample； Etching polishing； Chemo-mechanical polishing； Ion milling；

【基金】国家自然科学基金(50271016)

【文献出处】理化检验(物理分册) ,Physical Testing and Chemical Analysis Part A Physical Testing , 编辑部邮箱 ,2004年12期

【分类号】TB302;TG115.2
【被引频次】34
【下载频次】667

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