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边界扫描在PCB缺陷测试中的应用

Application of Boundary Scan Test Technique in PCB Failure Test

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【作者】 刘家欣肖大雏王彬如

【Author】 Liu Jiaxin,Xiao Dachu,Wang Bingru (Wuhan University,Wuhan430072,China)

【机构】 武汉大学自动化系武汉大学自动化系 湖北武汉 430072湖北武汉 430072湖北武汉 430072

【摘要】 硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足。通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理,提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT,实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能。

【Abstract】 As the scale and complexity of hardware systems increase quickly , it is now a more difficult task to test them .The BST technique can well make up the shortcoming of traditional test techniques. In this article, the basic concepts of Boundary Scan Test Technology applied in PCB connection test is introduced firstly .Then an applied widely,low cost and effective BST implement -PPT(Parallel Port Test) is presented.The system can accomplish boundary scan test for system, PCB, chip level integrated circuit.

【关键词】 JTAGBST针床ICTBGA
【Key words】 JTAGBSTbed of nailsICTBGA
  • 【文献出处】 计算机测量与控制 ,Computer Automated Measurement & Control , 编辑部邮箱 ,2004年05期
  • 【分类号】TN407
  • 【被引频次】12
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