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弯曲波导损耗的一种分析方法

Method for Analyzing Graded-Index Bend Waveguides

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【作者】 李洪涛； 何对燕； 陈轩；

【Author】 LI Hong-tao HE Dui-yan Chen Xuan(Measuring & Testing Technology and Communication Engineering Ministerial Key Laboratory,School of Electronic Information Engineering,Wuhan University,Wuhan 430079)

【机构】 武汉大学电子信息学院测试计量技术与通信工程部级重点实验室； 武汉大学电子信息学院测试计量技术与通信工程部级重点实验室 武汉430079； 武汉430079； 武汉430079；

【摘要】 用射线分析法,分析了折射率渐变弯曲波导损耗的实质。根据有效折射率的变型形式分析了影响弯曲波导损耗的主要因素,并计算了最小弯曲半径及其相对应的损耗。

【Abstract】 A Radial Analytical Method(RAM) is employed to analyze the essential of bended graded-index wave guide losses. The transfiguration of effective index method(EIM) is used to analyze the factors influencing the losses, and the minimum bending radius and the relative losses are calculated.

【关键词】 有效折射率法； 射线分析法； 损耗； 渐变折射率；
【Key words】 effective index method RAM loss graded-index；
  • 【文献出处】 激光与光电子学进展 ,Laser & Optronics Progress , 编辑部邮箱 ,2004年06期
  • 【分类号】TN256
  • 【被引频次】5
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