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利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法测定⁷⁹Se的半衰期

Half-life measurement of ⁷⁹Se with projectile X-ray method in AMS

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【Author】 HE Ming JIANG Songsheng JIANG Shan WU Shaoyong DIAO Lijun(China Institute of Atomic Energy, Beijing 102413)

【机构】中国原子能科学研究院；中国原子能科学研究院北京 102413；北京 102413；北京 102413；

【摘要】利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法(PX-AMS)对79Se的半衰期进行了测定。用这一直接测量79Se原子数的方法得到新的79Se半衰期为(2.80±0.36)×10~5a。利用同样的方法也测定了75Se的半衰期,75Se半衰期的测定结果显示利用PX-AMS方法对79Se半衰期的测定结果是可靠的。更多还原

【Abstract】 The half-life of 79Se has been measured using the projectile X-ray method in AMS (PX-AMS). A new half-life of 79Se, (2.80±0.36) ×10~5a is obtained with the direct measurement method. The half-life of 75Se is also obtained with the same method as that of 79Se. The measurement result of 75Se half-life shows that the result of 79Se half-life obtained with the PX-AMS method is reliable.更多还原