节点文献

E5AX系列温控仪试验台的研制

The development of a testing device for the E5AX series temperature controller

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 曾亚波潘迪夫

【Author】 ZENG Ya-bo,PAN Di-fu(Central South University,Hunan-Changsha 410075,China)

【机构】 中南大学交通运输工程学院中南大学交通运输工程学院 湖南长沙410075湖南长沙410075

【摘要】 详细介绍了一种新颖的温控仪测试方法———Pt100的单片机阻抗模拟法,和基于此法的系统硬件和软件设计。与传统的测试装置相比,该设计大大简化了装置结构、降低了装置成本,可缩短测试时间。

【Abstract】 This paper gives an account of an novel method for testing temperature controller,i.e.RTD’s simulation method based on MCU,and discusses its hardware and software design.Compared with a traditional testing device,this method can simplify the hardware structure,bring down cost and reduce testing time greatly.

  • 【文献出处】 工业仪表与自动化装置 ,Industrial Instrumentation & Automation , 编辑部邮箱 ,2004年02期
  • 【分类号】TP21
  • 【下载频次】47
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络