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厚度偏差对VCSEL的反射谱和反射相移的影响

Effect of Thickness Deviation on the Reflection Spectra and Phase Shift of VCSELs

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【作者】 侯识华赵鼎孙永伟杨国华谭满清陈良惠

【Author】 HOU Shi-hua1 ZHAO Ding2 SUN Yong-wei1 YANG Guo-hua1 TAN Man-qing1 CHEN Liang-hui1 (1 Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China 2 Institute of Electronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China)

【机构】 中国科学院半导体研究所中国科学院电子学研究所中国科学院半导体研究所 北京100083北京100080北京100083北京100083

【摘要】 采用光学传输矩阵方法分析了厚度偏差对VCSEL的反射谱和反射相移产生的影响。结果表明,反射镜和VCSEL中各层厚度的偏大,将使反射镜的中心波长以及VCSEL的模式波长向长波方向移动,而反射镜和VCSEL中各层厚度的偏小,将使反射镜的中心波长以及VCSEL的模式波长向短波方向移动。将键合界面离有源区稍微远一些,有利于减小其厚度偏差对VCSEL的模式波长的影响。

【Abstract】 The effect of thickness deviation on the reflection spectra and phase shift of VCSELs has been analysed using optical transfer matrix method. The result shows that a positive thickness bias in DBR and VCSEL result in a shifting of the center wavelength of the DBR and the mode wavelength of the VCSEL toward long wavelength, while a negative thickness bias in DBR and VCSEL lead to a blue shifting of both the center wavelength of the DBR and the mode wavelength of the VCSEL. In addition, it is beneficial to reduce the effect of thickness deviation on the shifting of the mode wavelength of VCSELs to put the fused interface a little far away from the active region.

【基金】 国家863计划资助(项目编号2001AA312180)
  • 【文献出处】 光学与光电技术 ,Optics & Optoelectronic Technology , 编辑部邮箱 ,2004年04期
  • 【分类号】TN248.4
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】72
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