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脉冲PIV测试仪及其在超辐射发光管热特性研究中的应用

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【作者】 唐明星； 王定理； 李传文； 印新达； 江山；

【机构】 武汉光迅科技有限责任公司； 武汉光迅科技有限责任公司 武汉430074； 武汉430074； 武汉430074；

【摘要】 针对超辐射发光管(SLED)的热特性,进行了仿真分析;通过研制的脉冲PIV测试仪对SLED发光区的温度进行了测试,验证了仿真分析结果。

【关键词】 超辐射发光管； 热特性； 脉冲P-I-V测试仪；
  • 【文献出处】 光通信技术 ,Optical Communication Technology , 编辑部邮箱 ,2004年08期
  • 【分类号】TN386
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