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斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究

Research on Thickness Measurement of Sheet Particles with Microscopic Image Analysis Method of Oblique Projection

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【作者】 窦彦玲任中京江海鹰

【Author】 DOU Yan-ling,REN Zhong-jing,JIANG Hai-ying(Research Center of Particle Measurement ,Jinan University ,Jinan 250022,China)

【机构】 济南大学颗粒测试研究所济南大学颗粒测试研究所 山东济南250022山东济南250022山东济南250022

【摘要】 与传统正投影显微图像分析方法不同,本文应用斜投影法,通过变换观测颗粒群的角度,依据获得的光学显微镜下颗粒群的信息,推导出了颗粒群厚度的计算公式,并讨论了厚度分辨能力与倾斜角、放大倍数之间的关系,同时应用实例证明了该方法的可行性。

【Abstract】 The token information of particle group under light microscope is o btained based on slant projection. The calculating formula of particle group thi ckness is deduced, then the relation of thickness resolving power, slant angle a nd magnification is discussed.The feasibility of this method is proved through t he example.

  • 【文献出处】 中国粉体技术 ,China Powder Science and Technology , 编辑部邮箱 ,2004年02期
  • 【分类号】TB302
  • 【被引频次】6
  • 【下载频次】114
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