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智能测控电路片上系统的设计与仿真

Design and Simulation of SOC for Intelligent Measurement and Control

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【作者】 虞致国吴金勇马国强徐苏珊徐健健

【Author】 YU Zhi-guo , WU Jin-yong , MA Cuo-qiang , XU Su-shan , XU Jian-jian (Department of Physics , Nanjing University, Nanjing 210093, China)

【机构】 南京大学物理学系南京大学物理学系 南京 210093南京 210093南京 210093

【摘要】 智能测量控制电路在工业测控及各类消费产品中应用极广,介绍了其基于8 bit嵌入式微控制器的单芯片系统的设计及仿真。在单芯片内完成智能测控系统所需的数据调理、模数转换、用户按键输入、数码显示、控制量输出等功能。设计了基于FPGA的硬件仿真平台,验证了系统功能的正确性。本设计具有较强的通用性,可用于多种测控场合。

【Abstract】 Intelligent measurement and control circuit is very popular in industrial control and a great variety of consumable . An intelligent measure and control system on a single chip is designed and simulated based on 8 - bit embedded MCU. All the functions of data sampling, data processing, key input, control output, display etc. are implemented on a single chip. An hardware simulation system based on FPGA is designed and the system functions are verified. The design is in general use for various measurement and control situations.

【关键词】 智能测控片上系统微控制器FPGA
【Key words】 intelligent measurement and controlSOCMCUFPGA
  • 【文献出处】 电子器件 ,Journal of Electron Devices , 编辑部邮箱 ,2004年01期
  • 【分类号】TN402
  • 【下载频次】86
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